托利多XPE分析天平
梅特勒 托利多XPE分析天平说明:Gek广州南创电子科技有限公司
XPE 分析天平提供卓越的分析称量性能,并满足至高的安全性、效率且易于合规。
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XPE 分析天平重复性低,因此 提 供 更小 的 称量 值。质量管理特征,例如创新的状态指示灯 (StatusLight) 和获得专利的静电检测 (StaticDetect) 技 术,可免除您在称量方面的担忧并对获得值得信赖的结果。凭借各种选件和多个连接选项,XPE 天平可满足您日益增长的需求。
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梅特勒 托利多XPE分析天平的特点Gek广州南创电子科技有限公司
高分辨率技术
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采用灵敏度测试的内部校正
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内部温度控制
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静电检测
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(StaticDetect™)
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彩色触摸屏
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采用11 种语言的用户界面
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易巧称量件(ErgoClip) 用于直接加样
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易于清洁
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悬挂式网格秤盘(SmartGrid)
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动态图形显示(Smar tTrac) 指导的加样至目标
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自动防风罩
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红外感应器(SmartSens),实现用于无需用手接触的操作
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图形化水平控制系统和分级别警告
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最小称量值(MinWeigh) 保护
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测试管理器
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FACT、GWP 和管理员记录
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与用户及密码保护
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状态指示灯(StatusLight)
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Quantos 更新就绪
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LabX 就绪
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射频识别(RFID) 通信就绪
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一体化去静电装置就绪
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内置的RS232 接口和第2个接口选件插槽
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梅特勒 托利多XPE分析天平的技术参数:
梅特勒 托利多XPE分析天平配件:Gek广州南创电子科技有限公司
Quantos 升级模块(固体和溶剂的自动加样模块消除偏差和错误,提供最高的准确性和安全性。)
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Smart Tag RFID 标签(从您的天平通过滴定杯安全地传输滴定样品信息。)
EasyScan™(在带有RFID 标记的移液器上检查测试和校准日期。当通过天平应用进行测试时,记录新的测试日期。)
去静电装置(一体化去静电电极固定到天平上,缓慢去除称量室的电荷。还提供通用去静电装置。)
打印机(坚固耐用的P-50 系列实验室打印机在纸上进行具有存档质量的打印输出和连续剥离标签。)
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梅特勒 托利多XPE分析天平型号:
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XPE105、XPE105DR、XPE204 分析天平、XPE205 分析天平、XPE205DR 分析天平、XPE206DR、XPE304、XPE504 分析天平
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